旺矽科技股份有限公司近日正式发布全新测试解决方案，专为是德科技NA5305A/7A PNA-X频率扩频器量身打造，实现全集成250 GHz宽带测试。该方案深度融合旺矽在次太赫兹探测技术与晶圆级测量领域的核心技术积累，通过搭载TITAN射频探针及探针台平台，为用户带来前所未有的S参数测试体验。
作为行业领先方案，该测试平台充分彰显旺矽在射频测试领域的创新实力。通过整合尖端次太赫兹探测技术与晶圆级测量技术，有效解决了高频段测试中的诸多难题，为半导体行业提供高效精准的测试方案。TITAN射频探针与探针台平台的完美结合，不仅实现了测试数据的实时采集与分析，更通过智能算法优化测试流程，大幅提升测试效率。
TITAN T250系列探针作为核心组件，可无缝集成于旺矽全系列探针台平台，全面支持温控晶圆级测量。该系列探针采用先进材料与精密制造工艺，确保在250 GHz频段下仍能保持卓越的信号传输性能。温控功能的加入，有效解决了温度波动对测试精度的影响，显著降低人工干预需求，使测试过程更加稳定可靠。
该方案的成功推出，标志着旺矽在射频测试领域迈入新阶段。通过持续的技术创新与产品优化，旺矽致力于为全球客户提供更高效、更精准的测试解决方案，助力半导体行业实现更高水平的研发与生产。未来，旺矽将继续深耕射频测试技术，为行业进步贡献更多力量。
